Excelente: CBP lança Enrollment on Departure (EOD) para aplicantes do Global Entry

Desde 2022 os brasileiros já podem utilizar o Global Entry para entrar nos EUA, e o mais interessante de tudo é a questão do TSA Precheck que vem junto com o GE, logo ao passar nas verificações de segurança não será preciso tirar sapatos e tênis, laptops e líquidos até 100ml.

Mesmo para quem viaja pouco aos Estados Unidos vale muito a pena, pois tem validade de 5 anos, sendo que alguns cartões americanos cobrem a taxa do GE.

Uma das maiores dificuldades após aprovação era justamente completar a “entrevista” final para poder utilizar o programa. Para nós brasileiros temos uma facilidade que é o Enrollment on Arrival (EoA), porém em virtude do horário de chegada de alguns voos, a disponibilidade não existia ou era fraca.

Agora, a CBP lançou o Enrollment on Departure (EoD), primeiramente no aeroporto de Washington Dulles (IAD), que serve demais para quem vai sair dos EUA via United Airlines para GRU. Você pode ler o comunicado da CBP completo clicando aqui.

A partir de agora, você poderá completar a “entrevista” do GE ao sair dos EUA, no caso, nesse primeiro momento, no aeroporto de IAD, na sala da CBP próximo ao portão B41 entre meio dia e 20h horário de DC.

Logo, se você já tiver sido “conditionaly approved”, aprovado condicionalmente, pode utilizar dessa facilidade para finalizar o processo e já pegar o seu GE antes de embarcar no voo da United de IAD para GRU.

É mais uma facilidade muito bem vinda, e esperamos que essa iniciativa se espalhe para outros aeroportos que tem tráfego maior de brasileiros como por exemplo JFK e MIA.

E você? Já faz o seu GE? 

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Eloy Fonseca Neto

Eloy da Fonseca Neto é apaixonado por viagens, e utiliza dos programas de fidelidade para levar sua família ao máximo de lugares possível. Criou o Blog Mestre das Milhas ao notar a falta de informações sobre pontos e milhas no Brasil, com a intenção de auxiliar a todos para que possam realizar cada vez mais viagens, e sempre ao lado de seus entes queridos.

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